Tescan lance le MIRA XR, un microscope électronique à balayage à ultra-haute résolution, destiné aux applications de caractérisation des matériaux et d'analyse de défaillance
Tescan a récemment lancé le système de microscope électronique à balayage à ultra-haute résolution MIRA XR, destiné aux besoins de caractérisation des matériaux dans les domaines de la technologie des batteries, de la métallurgie et des sciences des matériaux avancés. Positionné entre le Tescan MIRA et le Tescan CLARA, ce système vise à offrir une résolution plus élevée, une sensibilité de surface accrue et un flux de travail simplifié, pour les laboratoires de R&D, le contrôle qualité industriel et l'analyse de défaillance. Selon les informations fournies, le MIRA XR utilise la technologie BrightBeam™ et un détecteur axial unique à haute efficacité, permettant d'améliorer la collecte des signaux de surface en imagerie sans champ, adapté aux matériaux sensibles au faisceau et aux échantillons magnétiques, tout en réduisant les besoins de prétraitement tels que le revêtement de surface. Le système est également équipé...
2026-08-26
